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2026 年 6 月 10 日 国际无损检测委员会（ICNDT）NDT-CE 专家小组 SG03：新兴技术——用于结构检测与评定的μ子成像

June 10, 2026 ICNDT SIG NDT-CE SG03: Emerging technologies- Muography for structural inspection and assessment
REPORT 2026 年

简介

国际无损检测委员会（ICNDT）NDT-CE 专家小组 SG03：新兴技术——用于结构检测与评定的μ子成像

出版信息

出版日期
2026 年
出版组织
国际无损检测委员会
出版物类型
REPORT
ISSN
ISBN

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