提供一个国际论坛，讨论以束注入及相关方法对半导体进行物理表征这一领域的进展。
半导体微观结构束注入评估国际会议（BIAMS）自1988年起举办，以提供国际论坛、讨论以束注入及相关方法对半导体进行物理表征领域的进展为宗旨。现有登记资料未载明该会议系列的内部结构。
官网：https://example.org/
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自1988年起举办。
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